本方案目录
产品结构及工艺流程介绍
检测需求说明
样品缺陷说明
工站及机位排布
光学成像评估---效果及示意图
算法仿真
风险与问题
附录-硬件尺寸图
产品介绍
薄膜是一种特殊的物质形态，电于基在厚度这一特定方向上尺寸很小，只是微观可测的量，而且在厚度方向上由于表面、界面的存在，使物质连续性发生中断，由此使得薄膜材料产生了与块状材料不同的独特性能.
工艺流程
检测需求说明
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样品缺陷说明
| 产品颜色 | 蓝色 |
| 产品检测规格 | 360*300mm |
| 缺陷类型 | 黑线位置及尺寸 |
| 缺陷分布区域 | 表面 |
| 肉眼可视化程度 | 正面 |
| 备注 |
图像效果图
由于黑线上还有一层蓝膜，视野较大要求能达到要求的情况下，选用两个光照均匀的条形光源，稍微倾斜即可照到产品表面，黑线位置清晰呈现。
工位示意图
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工位配置表
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风险与问题
从目前现有的样品判断，效果可以检，实验中无法做到车间的无尘环境，效果有轻微干扰，实际在生产过程中对效果无影响。
附录-硬件尺寸图
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